이 간단한 MOSFET 테스터는 향상된 모드 유형 N 및 P 채널 MOSFET을 모두 빠르게 테스트합니다. 게이트, 드레인 및 소스 간의 단락을 확인합니다.

설계자 : Henry Bowman

또한 N 채널과 P 채널 MOSFET을 구분합니다. MOSFET에 올바르게 연결되면 연결을 반전하지 않고 모든 테스트가 수행됩니다. 이는 잘못된 결과를 생성 할 수있는 핀 및 정적 축적 처리를 줄여줍니다. 이 프로젝트는 제가 트랜지스터 테스트 / 식별자.

회로 작동 :

IC-1은 불안정한 멀티 바이브레이터로 구성된 555 타이머 IC입니다. 초당 약 2 개의 출력 풀을 생성합니다.

“7 세그먼트 디스플레이 진리표 k 맵 ”

주파수는 R1, R2 및 C1에 의해 결정됩니다. IC-1의 출력은 저항 R4와 IC-2의 트리거 입력 리드에 연결됩니다. IC-2는 또한 555 타이머 IC이며 인버터로 구성됩니다.

IC-2의 출력 핀 3은 항상 IC-1의 출력 핀 3의 반대 극성입니다. IC-2의 출력은 저항 R5에 연결됩니다. R4 및 R5는 다이오드 D1 / D2 및 Led 1/2에 전류 제한을 제공합니다. 다이오드와 LED는 4 위치 3 갱 회전 스위치에 연결됩니다.

회전 스위치의 세 개의 공통 리드는 MOSFET 연결을 위해 '게이트', '드레인'및 '소스'라고 표시된 테스트 포스트에 연결됩니다. 코드가있는 PG 유형 클립은 MOSFET에 쉽게 연결할 수 있도록 3 개의 바인딩 포스트에 부착해야합니다.

테스트 방법

MOSFET이 이러한 연결에 올바르게 연결되고 전원 스위치가 켜져 있으면 테스트는 다음과 같습니다.

위치 # 1 : 게이트와 소스 연결 사이의 단락을 테스트합니다. IC-1 및 IC-2의 출력은 지속적으로 극성을 반전시킵니다.

게이트와 소스 사이에 단락이있는 경우 Led-1 및 Led-2에 대한 전류 경로가 555 ic의 대체 극성으로 제공됩니다. 단락이 없으면 LED가 켜지지 않습니다.

위치 # 2 : 게이트와 드레인 연결 사이의 단락을 테스트합니다. 선택 스위치를 위치 # 2로 이동하면 Led 연결도 게이트 및 드레인으로 이동합니다. 단락이 없으면 LED가 켜지지 않습니다.

위치 # 3 : 드레인과 소스가 LED에 연결되는 동안 게이트에 양의 바이어스를 제공합니다. MOSFET이 N 채널이면 Led-1과 Led-2가 모두 깜박입니다. MOSFET이 P 채널 인 경우 Led-2 만 깜박입니다. 이것은 게이트와 소스 사이의 정상적인 다이오드 기능을 나타냅니다. (아래 참고 참조)

위치 # 4 : 드레인과 소스가 LED에 연결되는 동안 게이트에 음의 바이어스를 제공합니다. mos-fet이 N 채널이면 Led-1 만 깜박입니다.

이것은 게이트와 소스 사이의 정상적인 다이오드 기능을 나타냅니다. mos-fet이 P 채널이면 Led-1과 Led-2가 모두 깜박입니다. (아래 참고 참조)

“3상 전력을 단상으로 변환 ”

참고 : MOSFET의 드레인 및 소스가 단락되면 Led-1과 Led-2가 N 또는 P 채널에 관계없이 테스트 위치 # 3 및 테스트 위치 # 4에서 깜박입니다. 이것이 드레인 소스 단락이 결정되는 방법입니다.

부품 목록:

수량-설명
2 ---- 555 타이머 IC 또는 1 듀얼 타이머 556
1 ---- 470K 1/4 와트 저항기
1 ---- 10K 1/4 와트 저항
1 ---- 4.7K 1/4 와트 저항
1 ---- 1000 NF 전해 커패시터 20 WVDC
3 ---- 330 ohm 저항기 1/2 와트
2 ---- 1N34 범용 다이오드 또는 동급
2 ---- 발광 다이오드, 적색
1 ---- 발광 다이오드, 녹색
3 ---- LED 장착 소켓
1 ---- 선택 스위치, 4 위치, 3 구
1 ---- 선택 스위치 노브
1 ---- 토글 스위치, spst
1 ---- 5V 레귤레이터 7805 또는 동급
1 ---- 9 볼트 배터리
1 ---- 9 볼트 배터리 고정 클립
1 ---- 9V 배터리 포스트 커넥터
3 ---- 테스트 연결을위한 바인딩 포스트
1 ---- 작은기구 상자