간단한 회로 테스터 프로브 – PCB 오류 찾기

이 간단한 회로 테스터는 단락, 비정상적인 저항 조건, 연속성 조립 된 회로 기판 또는 PCB 내부에서 등을 끊습니다. 표시는 가청 부저음 또는 LED 조명을 통해 이루어집니다. 설명 된 디자인은 모두 매우 민감하거나 취약한 전자 부품이있을 수있는 PCB에서도 사용하기에 매우 안전합니다.

전자 회로 PCB의 수동 테스트는 간단한 작업으로 보일 수 있습니다. 옴 미터 만 있으면됩니다. 그러나 반도체로 보드를 검사하기 위해 옴 미터를 사용하는 것은 일반적으로 현명한 결정이 아닐 수 있습니다. 미터의 출력 전류는 반도체 접합에 해를 끼칠 수 있습니다.

아래에 설명 된 트랜지스터 기반 테스터 인 첫 번째 회로는 개발하기가 매우 쉬우 며 프로브가 테스트중인 회로에 50µA 이하를 생성하므로 안전성이 우수합니다.

따라서 대부분의 표준 IC 및 MOS 구성 요소와 같은 반도체 문제를 해결하는 데 안전하게 사용할 수 있습니다.

테스트 결과 '인디케이터'는 실제로 약간 큰 스피커의 형태로, 테스트시 회로 기판이 아닌 테스트 장치로 눈을 돌리는 것이 필수적이지 않은지 확인합니다.

트랜지스터 T1 및 T2는 라우드 스피커를 부하로 사용하는 기본 전압 제어 저주파 발진기처럼 작동합니다. 그만큼 발진기 주파수는 C1, R1, R4 및 측정중인 프로브에 대한 외부 저항 부하의 저항 값에 따라 달라집니다. 저항 R3은 T2의 콜렉터 저항이됩니다. C2는 R3에 대한 저주파 디커플링처럼 작동합니다.

앞서 설명한 바와 같이 테스터는 테스트중인 회로에 해를 끼치 지 않지만 반대로 테스트중인 회로의 전위가 테스터 장치에 해를 끼치 지 않도록 다이오드 D1 및 D2를 포함하는 것이 중요 할 수 있습니다.

테스트 프로브간에 전력 연관성이 없다는 점을 감안할 때 회로는 전류를 끌어 당기지 않습니다. 결과적으로 배터리 수명은 보관 수명과 거의 비슷할 수 있습니다.

연산 증폭기 사용

매우 정확하고 안전한 또 다른 회로 기판 테스터 및 오류 추적기는 다음 단락에 설명되어 있습니다. 연산 증폭기 기반 설계로 이전 트랜지스터 화 된 버전보다 작동이 훨씬 더 정확합니다.

이미 논의했듯이 표준 저항계를 사용하여 회로 연결 연속성을 테스트하는 동안 테스트에 사용 된 저항기, 반도체 등이 잘못된 판독 값을 제공 할 수있는 위험이 있습니다. 또한 미터의 전류 또는 전압은 때때로 회로 부품을 손상시킬 수 있습니다.

위에 표시된대로이 연산 증폭기 기반 회로 테스터 개념을 사용하면 이러한 모든 단점이 안전하게 제거됩니다.

테스터는 프로브가 회로 기판의 두 지점을 상호 연결할 때마다 프로브 전체에 1ohm 이하의 저항을 생성합니다.

또한 tetser에서 사용하는 전압이 2mV가 아니기 때문에 다이오드, IC 또는 이러한 취약한 구성 요소가 테스트 절차 중에 결과에 관여하지 않음을 의미합니다. 테스트중인 보드의 테스트 프로브에 나타날 수있는 최대 전류 크기는 200pA이며, 이는 테스트중인 PCB에 어떤 종류의 문제도 일으키기에는 너무 겸손 해 보입니다. 테스트 결과 표시는 LED를 통해 이루어집니다.

장치가 인클로저와 같은 펜 내부에 맞도록 제작 된 경우 매우 편리 할 수 ​​있으며 전체 장치를 프로브 중 하나로 사용할 수 있으며 다른 프로브는 보드의 다른 위치에 고정 할 수 있습니다.

한 가지 단점은 장치의 전원 공급 장치로 2 개의 9V 셀이 필요하다는 것입니다.

표시된 사전 설정은 연산 증폭기의 출력 오프셋을 조정하는 데 사용됩니다. 사용자는 프로브 끝이 단락 될 때 LED가 켜지도록 사전 설정 P1을 조정해야합니다. 반대로 프로브가 열리면 LED가 즉시 꺼져 야합니다. 이렇게하면 프로브가 테스트중인 PB에서 거의 단락과 유사한 상태가 발생할 때만 LED를 비추도록 회로가 설정됩니다.

매우 작고 매끄러운 PCB는이 작은 PCB 테스터를 위해 설계되었으며 다음 다이어그램을 통해 연구 할 수 있습니다.